




mos管失效的两个主要原因:
电压失效:即漏源间的bvdss电压超过mos管额定电压,达到一定容量,造成mos管失效。
栅电压故障:栅极遭受异常电压尖峰,造成栅氧层故障。
雪崩破坏到底是什么?简单地说,mos管是由母线电压、变压器反射电压、漏感尖峰电压等与mos管之间叠加而形成的故障模式。简而言之,即mos管漏源极的电压超过了它规定的电压值,慈溪中低压mos,并且达到了某一能量---i时所产生的常见故障。
造成栅电压异常高的主要原因有三个:生产、运输和装配过程中的静电;设备和电路寄生参数在电力系统运行过程中产生高压谐振;在高压冲击时,中低压mos厂家,高压通过ggd传输到电网(雷击测试时这种故障更为常见)。
mos管是金属(metal)—氧化物(oxide)—半导体(semiconductor)场效应晶体管,或者称是金属—绝缘体(insulator)—半导体。mos管的source和drain是可以对调的,他们都是在p型backgate中形成的n型区。在多数情况下,这个两个区是一样的,wp中低压mos,即使两端对调也不会影响器件的性能。这样的器件被认为是对称的。
做电源设计,或者做驱动方面的电路,难免要用到mos管。mos管有很多种类,也有很多作用。做电源或者驱动的使用,当然就是用它的开关作用。
无论n型或者p型mos管,中低压mos万芯半导体,其工作原理本质是一样的。mos管是由加在输入端栅极的电压来控制输出端漏极的电流。mos管是压控器件它通过加在栅极上的电压控制器件的特性,不会发生像三极管做开关时的因基极电流引起的电荷存储效应,因此在开关应用中,mos管的开关速度应该比三极管快。
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mos管制造商采用rds(on)参数来定义导通阻抗,对开关应用来说,rds(on)也是重要的器件特性。数据手册定义rds(on)与栅极(或驱动)电压vgs以及流经开关的电流有关,但对于充分的栅极驱动,rds(on)是一个相对静态参数。一直处于导通的mos管很容易---。另外,慢慢升高的结温也会导致rds(on)的增加。mos管数据手册规定了热阻抗参数,其定义为mos管封装的半导体结散热能力。rθjc的简单的定义是结到管壳的热阻抗。
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