




公司成立于2013年7月,---从事单片机的应用开发及生产,并提供全系列中低压mos及电源、锂电ic等的销售,在led及小家电等消费类电子产品上应用广泛,为您---适合的芯片方案。
判定栅极
用万用表的黑表笔去触碰管子的随意一个电极,红表笔分别去触碰另外的两个电极。如果两次都测出的阻值较小,说明两者都是正向电阻,该管属于是n沟道的场效应管,黑表笔接触的一样也是栅极。
制作的过程中就决定了场效应管的漏极和源极是对称的 ,可以互相交换使用 ,并不会影响电路的使用,中低压mos厂家,电路此时也是正常的,所以不用去过度区分。漏极和源极之间的电阻大约是几千欧。不能使用这个方法去判断绝缘栅型场效应管的栅极。因为这管子输入的电阻是---的,而且栅源之间的极间电容又是非常小的,测量的时候只要有少量电荷,就可以在极间电容上面形成---的电压,管子将很容易损坏。
---情况有:
1.电路设计的问题,就是让mos管工作在线性的工作状态,而不是在开关状态。这也是导致mos管---的一个原因。如果n-mos做开关,g级电压要比电源高几v,才能完全导通,中低压mos万芯半导体,p-mos则相反。没有完全打开而压降过大造成功率消耗,等效直流阻抗比较大,中低压mos,压降增大,所以u*i也增大,损耗就意味着---。这是设计电路的非常忌讳的错误。
2.频率太高,主要是有时过分追求体积,导致频率提高,mos管上的损耗增大了,所以---也加大了。
3.没有做好足够的散热设计,电流太高,mos管标称的电流值,一般需要---的散热才能达到。所以id小于大电流,也可能------,需要足够的辅助散热片。
4.mos管的选型有误,中低压mos生产厂家,对功率判断有误,mos管内阻没有充分考虑,导致开关阻抗增大。
mos管fet栅源保护:
1)避免 栅极 di/dt 过高
因为选用驱动集成ic,其输出阻抗较低,直推功率管会造成推动的功率管迅速的开启和断连,有可能导致功率管漏源极间的工作电压波动,或是有可能导致功率管遭到过高的 di/dt 而造成误通。为预防以上问题的产生,一般在 mos 控制器的导出与 mos 管的栅极中间串连一个电阻器,电阻器的尺寸一般选择几十欧母。
2)避免 栅源极间过压
因为栅极与源极的特性阻抗---,漏极与源极间的工作电压基因突变会根据极间电容藕合到栅极而造成非常高的栅源顶i峰工作电压,此工作电压会使非常薄的栅源空气氧化层穿透,与此同时栅极非常容易累积正电荷也会使栅源空气氧化层穿透,因此,要在 mos 管栅极串联稳压极管以限定栅极工作电压在稳压极管值下,保护 mos 管不被穿透。
3)安全防护漏源极中间过压
尽管漏源击穿电压 vds 一般都非常大,但假如漏源极不用保护电路,一样有可能由于器件电源开关一瞬间电流量的基因突变而造成漏极顶i峰工作电压,从而毁坏 mos 管,功率管电源开关速率越快,造成的过压也就越高。为了---地避免器件毁坏,一般选用齐纳二极管钳位和 rc 缓存电路等保护对策。

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